[發(fā)明專利]低溫直接沉積多晶硅薄膜晶體管及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610098711.2 | 申請日: | 2006-07-06 |
| 公開(公告)號: | CN101064256A | 公開(公告)日: | 2007-10-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王敏全;彭逸軒;翁得期;王亮棠;黃志仁 | 申請(專利權(quán))人: | 財團(tuán)法人工業(yè)技術(shù)研究院 |
| 主分類號: | H01L21/336 | 分類號: | H01L21/336;H01L29/786 |
| 代理公司: | 北京連和連知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 王光輝 |
| 地址: | 臺灣省新竹縣*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 低溫 直接 沉積 多晶 薄膜晶體管 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及薄膜晶體管(“TFT”),更特定言之,涉及一種低溫多晶硅(“LTPS”)TFT結(jié)構(gòu)及其制造方法。
背景技術(shù)
在平板顯示裝置(例如,液晶顯示(“LCD”)裝置、有機(jī)電致發(fā)光顯示裝置及無機(jī)電致發(fā)光顯示裝置)中,一般將薄膜晶體管(“TFT”)用作一切換裝置用于控制像素運作或用作驅(qū)動裝置用于驅(qū)動上述這些像素。
通常將TFT分類為非晶硅(a-Si)類型或多晶硅(poly-Si)類型。與a-SiTFT相比,poly-Si?TFT之遷移率高得多,此導(dǎo)致獲得更好的晶體特征、更少的晶體缺陷及更小的光泄漏電流增加。因此,由poly-Si?TFT所制造的顯示器具有高分辨率、高響應(yīng)速度及集成驅(qū)動電路之優(yōu)點。然而,poly-SiTFT亦具有某些缺點,例如,低產(chǎn)品產(chǎn)量、復(fù)雜的處理及高處理成本。制造poly-Si薄膜之公知方法是準(zhǔn)分子激光退火(“ELA”),其具有激光成本高、處理不穩(wěn)定及差的晶體均勻度之缺點。相比之下,可使用發(fā)達(dá)的技術(shù)制造a-Si?TFT,其具有較低處理成本,但圖像質(zhì)量較低。
隨著半導(dǎo)體制造技術(shù)的發(fā)展,平板顯示裝置之面板尺寸一直在快速增加。為了獲得至少大約450cd/m2(或尼特)之亮度位準(zhǔn),一般需要大尺寸、高分辨率a-Si?LCD電視,其進(jìn)而需要光源提供更大的照明位準(zhǔn)。然而,更大的照明位準(zhǔn)會引發(fā)更大的泄漏電流,其會負(fù)面影響電視的顯示質(zhì)量。因此,需要提供一種以較低制造成本制造具有較低光泄漏電流之TFT裝置、但不影響任何顯示質(zhì)量之方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及一種用于制造薄膜晶體管(“TFT”)裝置之方法,上述這些裝置包括雙多晶硅層,其可消除由先前技術(shù)之限制與缺點引起之一個或多個問題。
依據(jù)本發(fā)明之一具體實施例,提供一種用于制造薄膜晶體管(“TFT”)裝置之方法,其包含:提供基板;在該基板上形成圖案化第一金屬層;在該圖案化第一金屬層上方形成絕緣層;在該絕緣層上方形成非晶硅層;在該非晶硅層上方形成第一多晶硅層;在該第一多晶硅層上方形成第二多晶硅層;對該第二多晶硅層加以摻雜以形成摻雜多晶硅層;圖案化上述這些非晶硅層、第一多晶硅層及摻雜多晶硅層以形成該TFT裝置之作用區(qū)域?qū)?;及在該作用區(qū)域?qū)由戏叫纬蓤D案化第二金屬層。
此外,依據(jù)本發(fā)明,提供一種用于制造TFT裝置之方法,其包含:提供基板;在該基板上形成圖案化第一金屬層;在該圖案化第一金屬層上方形成絕緣層;在該絕緣層上方形成非晶硅層;在該非晶硅層上方形成多晶硅層;在該多晶硅層上方形成摻雜多晶硅層;在該摻雜多晶硅層上方形成圖案化第二金屬層;使該摻雜多晶硅層之一部分曝光;及圖案化上述這些非晶硅層、多晶硅層及摻雜多晶硅層。
進(jìn)一步依據(jù)本發(fā)明,提供一種半導(dǎo)體裝置,其包含基板;形成于該基板上的圖案化第一金屬層;形成于該圖案化第一金屬層上方的絕緣層;形成于該絕緣層上方的圖案化非晶硅層;形成于該圖案化非晶硅層上方的圖案化多晶硅層;形成于該圖案化多晶硅層上方的摻雜、圖案化多晶硅層;及形成于該摻雜、圖案化多晶硅層上方的圖案化第二金屬層。
于下文的說明中將部分提出本發(fā)明的其它特點與優(yōu)點,而且從該說明中將了解本發(fā)明其中一部分,或者通過實施本發(fā)明亦可知曉。通過權(quán)利要求中特別列出的元件與組合將可了解且達(dá)成本發(fā)明的特點與優(yōu)點。
應(yīng)該了解的是,上文的概要說明以及下文的詳細(xì)說明都僅供作例示與解釋,其并未限制本文所主張之發(fā)明。
附圖說明
參閱附圖即可更佳了解本發(fā)明之前文所述以及下文具體實施方式。為達(dá)本發(fā)明之說明目的,各附圖用于表示較佳之具體實施例。然應(yīng)了解本發(fā)明并不限于圖中之精確排置方式及設(shè)備裝置。
在各附圖中:
圖1A至1E是說明依據(jù)本發(fā)明之第一具體實施例之制造薄膜晶體管(“TFT”)之方法之示意圖;
圖2A至2D是說明依據(jù)本發(fā)明之第二具體實施例之制造TFT之方法之示意圖;及
圖3A與3B是說明實驗結(jié)果之繪圖。
主要元件標(biāo)記說明
11????????????????????基板
12????????????????????圖案化第一金屬層
13????????????????????絕緣層
14????????????????????非晶硅層
15????????????????????多晶硅層
16????????????????????摻雜多晶硅層
17????????????????????接觸孔
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





