[發(fā)明專利]電路板測(cè)試治具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610083822.6 | 申請(qǐng)日: | 2006-06-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101082632A | 公開(公告)日: | 2007-12-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳萬(wàn)山;沈德文 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 金寶電子工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/02 | 分類號(hào): | G01R1/02;G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京科龍寰宇知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 孫皓晨 |
| 地址: | 中國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電路板 測(cè)試 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種電路板測(cè)試治具,特別涉及一種提供可固設(shè)電路板以及測(cè)試 電路板的治具。
背景技術(shù)
現(xiàn)有電路板測(cè)試治具是用以測(cè)試各種已經(jīng)布置電子組件以及電氣線路的電路 板,并同時(shí)提供固設(shè)所述電路板以及進(jìn)行電氣測(cè)試等裝置。如中國(guó)臺(tái)灣專利公告 第M266449號(hào)新型專利所顯示,一般的電路板測(cè)試治具,是一框體設(shè)置數(shù)個(gè)定位 組件所構(gòu)成,其中各個(gè)定位組件是可沿著所述框體作位置的平移調(diào)整,且各個(gè)定 位組件具有固鎖螺栓,藉以壓掣待測(cè)的電路板,或是藉以支撐待測(cè)的電路板。再 者,其電氣測(cè)試的裝置主要是透過(guò)一針板設(shè)置多個(gè)測(cè)試針,使得所述測(cè)試針分別 對(duì)應(yīng)所述電路板的電氣信號(hào)輸出入位置,用以輸入信息至待測(cè)電路板或量取所述 電路板的信息輸出。然而,所述定位組件與框體結(jié)合的方式是直接透過(guò)螺栓的螺 接或固鎖所達(dá)成,會(huì)因此導(dǎo)致結(jié)合部因?yàn)槁菟ǖ母邞?yīng)力接觸而導(dǎo)致接處位置的機(jī) 械破壞。
再者,由于現(xiàn)有電路板測(cè)試治具中的定位組件結(jié)構(gòu)復(fù)雜,并無(wú)考慮方便拆裝 的設(shè)計(jì),不但操作上會(huì)有所不便,也常常造成定位組件與電路板或是與電氣測(cè)試 的裝置形成結(jié)構(gòu)上的干涉問題。
另外,由于現(xiàn)今的電子產(chǎn)品更迭快速,必須不斷進(jìn)行新品的開發(fā),減少因?yàn)? 電路板測(cè)試治具中不當(dāng)設(shè)計(jì)所導(dǎo)致的結(jié)構(gòu)限制,并可適用于大部分的電路板。因 此必須提供具有可更換測(cè)試電路板的針板,以避免需要針對(duì)每批不同設(shè)計(jì)的電路 板,設(shè)計(jì)新的測(cè)試用針板,而同時(shí)能減少研發(fā)成本。
因此,發(fā)明人基于上述理由,進(jìn)而改良現(xiàn)有電路板測(cè)試治具所具有的缺失。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的電路板測(cè)試治具,主要是提供一電路板測(cè)試治具并具有固定待測(cè)電 路板的治具,同時(shí)可避免機(jī)構(gòu)連結(jié)處因?yàn)檫^(guò)度的應(yīng)力所造成的機(jī)械破壞。
本發(fā)明電路板測(cè)試治具的另一目的,提供一待測(cè)電路板的固定裝置,并可配 合所述待測(cè)電路板上的電路組件,而避免機(jī)構(gòu)干涉的發(fā)生。
本發(fā)明電路板測(cè)試治具的再一目的,是提供具有可重新布置測(cè)試針的針板, 藉以配合不同待測(cè)電路板的測(cè)試程序。
本發(fā)明電路板測(cè)試治具的再一目的,是通過(guò)框架結(jié)構(gòu)構(gòu)成所述待測(cè)電路板的 固定裝置,使得操作過(guò)程中可觀察所述固持裝置的壓掣機(jī)構(gòu)與所述電路板的相對(duì) 位置,而方便操作的進(jìn)行。
本發(fā)明是一種電路板測(cè)試治具,其是用以裝設(shè)待測(cè)試的電路板并進(jìn)行電氣測(cè) 試,其特征在于,包括:
測(cè)試裝置,其是用以檢測(cè)所述電路板的電氣功能;以及
固持裝置,其包括:
框架結(jié)構(gòu),其包括:
兩個(gè)對(duì)應(yīng)平行設(shè)置的第一導(dǎo)引桿;
多個(gè)第二導(dǎo)引桿,且各個(gè)第二導(dǎo)引桿的兩端是以滑動(dòng)設(shè)置方式分別機(jī)構(gòu)連結(jié) 于各個(gè)桿端所對(duì)應(yīng)的第一導(dǎo)引桿,使得各個(gè)第二導(dǎo)引桿是被限制為沿著所述第一 導(dǎo)引桿平行方向平移;以及
多個(gè)豎桿,各個(gè)豎桿底端分別具有壓掣部,且各個(gè)豎桿是以滑動(dòng)設(shè)置方式分 別對(duì)應(yīng)機(jī)構(gòu)連結(jié)于第二導(dǎo)引桿,使得各個(gè)豎桿被限制只能沿著對(duì)應(yīng)的第二導(dǎo)引桿 延伸方向平移;
以及
支撐部,其是板體結(jié)構(gòu);
其中所述框架結(jié)構(gòu)局部可拆卸的組裝結(jié)構(gòu),用以選擇所述框架結(jié)構(gòu)與所述支 撐部形成閉合狀態(tài)以及開啟狀態(tài)中的任一狀態(tài),且所述支撐部是設(shè)置于所述測(cè)試 裝置頂部,所述框架結(jié)構(gòu)所包圍的所述支撐部上表面局部區(qū)域中是用以設(shè)置所述 待測(cè)電路板,以及所述壓掣部是對(duì)應(yīng)所述待測(cè)電路板頂端面并用以壓掣所述電路 板的頂端面。
各個(gè)所述第一導(dǎo)引桿分別包括凹槽,所述凹槽是沿著所述第一導(dǎo)引桿平行方 向延伸;以及各個(gè)所述第二導(dǎo)引桿兩端分別設(shè)置滑塊,且各個(gè)滑塊是限制于對(duì)應(yīng) 的第一導(dǎo)引桿的凹槽中,使得所述滑塊被限制沿著對(duì)應(yīng)的凹槽的延伸方向移動(dòng)。
所述第二導(dǎo)引桿中分別包括沿著桿體延伸的等斷面部;以及各個(gè)所述豎桿分 別包括夾顎部以及固定螺栓,所述夾顎部是配合容納所述斷面部的顎狀結(jié)構(gòu),且 所述固定螺栓螺接于所述夾顎部并選擇壓掣所述斷面部表面以及松脫自所述斷面 部表面中的任一狀態(tài),使得選擇所述豎桿固設(shè)于所述第二導(dǎo)引桿以及相對(duì)所述第 二導(dǎo)引桿滑動(dòng)中的任一狀態(tài)。
各個(gè)所述豎桿分別進(jìn)一步包括下壓螺栓,所述下壓螺栓是螺接于所述豎桿, 且所述下壓螺栓底端形成所述壓掣部,以及所述下壓螺栓的位置調(diào)節(jié)是用以選擇 壓掣所述電路板的作用力。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過(guò)負(fù)載保護(hù)裝置或電路
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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