[發明專利]一種用于內電路測試點的傳輸線

有效

• 申請號: 200610083764.7
• 申請日: 2006-06-01
• 公開（公告）號: CN101082638A
• 公開（公告）日: 2007-12-05
• 發明（設計）人: 楊志明;陳彥豪
• 申請（專利權）人: 英業達股份有限公司
• 主分類號: G01R1/24
• 分類號: G01R1/24;G01R1/06;G01R1/02;G01R31/00;G01R31/02
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司
• 代理人: 梁揮;徐金國

技術領域

本發明涉及一種傳輸線，尤其涉及一種用于內電路測試點的傳輸線。

背景技術

內電路測試(In-Circuit?Test；ICT)是應用于印刷電路板(PrintedCircuit?Board；PCB)制造過程中的測試操作，其使用針床式的內電路測試設備來接觸印刷電路板的電路節點以便測量元件的效能或參數，而可忽略是否有其它的元件連結至被測量的元件。

通過依序地測量每個元件來檢查元件是否有正確的參數值，例如電阻值、電容值等，以及就像大部分印刷電路板在制造過程中會出現的差錯，例如開路、短路或元件錯誤等，甚至是因靜電傷害而失效的集成電路(IntegratedCircuit；IC)也可利用內電路測試檢測出來。當然，內電路測試的本意并非是用來為印刷電路板做功能性的測試，然而，若針對于此做適當的電路總成，也可達到此要求。

內電路測試設備包括多個驅動器與多個探測器，驅動器與探測器通常為一對一搭配設置而用以執行電路檢測，顧名思義，驅動器提供電壓或電流以驅動電路上的節點使其致能至一特定的預期狀態，于此，驅動器具有相當高的能力方能驅動節點而可忽略且不影響該節點的周遭電路，而且驅動器必須具有相當低的阻抗才能夠趨動電路測量而不影響到驅動節點的自然的輸出狀態。另一方面，探測器用來做參數測量，如同其它的測量裝置，其必須具有非常高的阻抗才不致影響到被測量的電路。

然而，在印刷電路板中，為了增加量產時產品的可靠度與優良率，必須在電路的信號線上增加內電路測試點，如圖1所示，為現有的增加內電路測試點101在傳輸線102上的示意圖，內電路測試點101用以驗證是否存在著未預期的開路或短路。由于內電路測試點101具有電容性的低阻抗特性，因此，如果增加更多的內電路測試點101于傳輸線102上，勢必加深傳輸線阻抗不連續性的效應，進而在高速數字電路上產生明顯的信號反射現象。

目前并不能夠降低內電路測試點所造成的阻抗不連續性，因此有時為了不影響信號完整性(Signal?Integrity)，必須將傳輸線上的內電路測試點移除，但是，對于被移除內電路測試點的信號線便不能驗證導線上是否存在著未預期的開路或短路。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于提供一種用于內電路測試點的傳輸線，本發明利用阻抗匹配的觀念，利用史密斯圖(Smith?Chart)依據預期頻率來調整單根傳輸線最佳化的線長與線寬，以改變連接到內電路測試點的傳輸線部分線段的寬度，使其呈現電感性的高阻抗特性，達到頻率點的阻抗匹配，進而改善內電路測試點電容性的低阻抗特性所造成不連續的效應，并在不移除內電路測試點與不增加成本的條件下，改善信號反射損失。

為實現上述目的，本發明所提供了一種用于內電路測試點的傳輸線，該傳輸線設置于一印刷電路板上并且具有至少一內電路測試點，用以提供電路測量，該傳輸線在連接該內電路測試點的一側配置一第一線長與一第一線寬的一第一線段，該傳輸線位于該內電路測試點的一側的部分線段配置一第二線長與一第二線寬的一第二線段，該第二線寬小于該第一線寬，該第二線段連接該內電路測試點與該第一線段.

本發明利用阻抗匹配的觀念以最佳化連接到內電路測試點的傳輸線部分線段的線長與線寬，使該部分線段呈現電感性的高阻抗特性，達到頻率點的阻抗匹配，進而改善內電路測試點電容性的低阻抗特性所造成不連續的效應。

以下結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述，但不作為對本發明的限定。

附圖說明

圖1為現有的增加內電路測試點在傳輸線上的示意圖；

圖2為本發明的改變傳輸線部份線長與線寬的示意圖；

圖3為本發明的未補償測試點與補償后測試點的反射損失曲線圖；及

圖4為本發明的未補償測試點與補償后測試點的眼圖。

其中，附圖標記

101，201：內電路測試點

102：傳輸線

202：第一線段

203：第二線段

301：補償后信號的反射損失曲線

302：未補償的傳輸線的信號的反射損失曲線

401：補償后信號的眼圖

402：未補償傳輸線的信號的眼圖

具體實施方式

以下在實施方式中詳細敘述本發明的詳細特征以及優點，其內容足以使任何本領域的技術人員了解本發明的技術內容并據以實施，且根據本說明書所揭露的內容、申請專利范圍及圖式，任何本領域的技術人員可輕易地理解本發明相關的目的及優點。