[發(fā)明專利]半導(dǎo)體集成電路及其延遲檢測方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610073302.7 | 申請日： | 2006-04-07 |
| 公開（公告）號： | CN1844946A | 公開（公告）日： | 2006-10-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 西川剛志 | 申請（專利權(quán)）人： | 株式會社東芝 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;H01L21/82 |
| 代理公司： | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務(wù)所 | 代理人： | 王永剛 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 半導(dǎo)體 集成電路 及其 延遲 檢測 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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