[發明專利]晶片測試中的自動送片方法及晶片測試機中的自動送片裝置無效
| 申請號： | 200610050007.X | 申請日： | 2006-03-27 |
| 公開（公告）號： | CN1847112A | 公開（公告）日： | 2006-10-18 |
| 發明（設計）人： | 周巍 | 申請（專利權）人： | 周巍 |
| 主分類號： | B65G25/04 | 分類號： | B65G25/04;B65G49/05;B65G49/07;H01L21/677 |
| 代理公司： | 臺州市方圓專利事務所 | 代理人： | 蔡正保 |
| 地址： | 318000浙江省臺州市椒*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 晶片 測試 中的 自動 方法 裝置 | ||
【權利要求書】：
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