[發明專利]基于統計約束模型的線陣掃描圖像非均勻性校正方法無效
| 申請號： | 200610025452.0 | 申請日： | 2006-04-05 |
| 公開（公告）號： | CN1834689A | 公開（公告）日： | 2006-09-20 |
| 發明（設計）人： | 舒嶸;孫凡;馬艷華 | 申請（專利權）人： | 中國科學院上海技術物理研究所 |
| 主分類號： | G01S17/89 | 分類號： | G01S17/89;G01S7/497;H04N5/14 |
| 代理公司： | 上海新天專利代理有限公司 | 代理人： | 田申榮 |
| 地址： | 200083*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 統計 約束 模型 掃描 圖像 均勻 校正 方法 | ||
【說明書】：
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