[發明專利]顯示器、列驅動集成電路、和多電平檢測器，以及多電平檢測方法

有效

• 申請號: 200580051653.1
• 申請日: 2005-11-03
• 公開（公告）號: CN101273395A
• 公開（公告）日: 2008-09-24
• 發明（設計）人: 李龍宰
• 申請（專利權）人: 安納帕斯股份有限公司
• 主分類號: G09G3/20
• 分類號: G09G3/20
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司
• 代理人: 李輝

1.一種多電平檢測器，該多電平檢測器包括：

第一共模移除電路，用于接收包括第一信號和第二信號的第一差分多電平信號，并輸出包括第三信號和第四信號的第二差分多電平信號，其中通過移除所述第一差分多電平信號的共模生成所述第二差分多電平信號；

第一比較器，用于接收所述第二差分多電平信號以及包括第一參考信號和具有比所述第一參考信號的電壓值更低電壓值的第二參考信號的差分參考信號，并根據所述第三信號的電壓和所述第一參考信號的電壓二者的比較結果，以及根據所述第四信號的電壓和所述第二參考信號的電壓二者的比較結果，輸出兩個邏輯值中的一個；

第二比較器，用于接收所述第二差分多電平信號和所述差分參考信號，并根據所述第四信號的所述電壓和所述第一參考信號的所述電壓二者的比較結果，以及根據所述第三信號的所述電壓和所述第二參考信號的所述電壓二者的比較結果，輸出所述兩個邏輯值中的一個；以及

運算單元，用于輸出多電平檢測結果，其中所述多電平檢測結果是所述第一比較器和所述第二比較器二者的輸出的邏輯運算的結果。

2.根據權利要求1所述的多電平檢測器，其中所述第一共模移除電路包括：

第一晶體管，用于通過其柵極接收所述第一信號并用于通過其漏極輸出所述第四信號；

第二晶體管，用于通過其柵極接收所述第二信號并用于通過其漏極輸出所述第三信號；

電流源，其連接到所述第一晶體管和所述第二晶體管二者的源極；

第一負載，其連接在電壓源和所述第一晶體管的所述漏極之間；以及

第二負載，其連接在所述第二晶體管的所述漏極和所述電壓源之間。

3.根據權利要求1所述的多電平檢測器，其中所述第一共模移除電路包括：

第一晶體管，用于通過其柵極接收所述第一信號并用于通過其漏極輸出所述第四信號；

第二晶體管，用于通過其柵極接收所述第二信號并用于通過其漏極輸出所述第三信號；

第一電流源，其連接到所述第一晶體管的源極；

第二電流源，其連接到所述第二晶體管的源極；

第一負載，其連接在電壓源和所述第一晶體管的所述漏極之間；

第二負載，其連接在所述第二晶體管的所述漏極和所述電壓源之間；以及

第三負載，其連接在所述第一晶體管和所述第二晶體管二者的所述源極之間。

4.根據權利要求1所述的多電平檢測器，其中所述第一共模移除電路包括：

第一晶體管，用于通過其柵極接收所述第一信號并用于通過其漏極輸出所述第四信號；

第二晶體管，用于通過其柵極接收所述第二信號并用于通過其漏極輸出所述第三信號；

第一電流源，其連接到所述第一晶體管的源極；

第二電流源，其連接到所述第二晶體管的源極；

第三晶體管，其連接在電壓源和所述第一晶體管的所述漏極之間；

第四晶體管，其連接在所述第二晶體管的所述漏極和所述電壓源之間，其柵極連接到所述第三晶體管的柵極；

第三負載，其連接在所述第一晶體管和所述第二晶體管二者的所述源極之間；

第四負載，其連接在所述第三晶體管的漏極和柵極之間；以及

第五負載，其連接在所述第四晶體管的漏極和柵極之間。

5.根據權利要求1所述的多電平檢測器，其中當所述第三信號的所述電壓高于所述第一參考信號的所述電壓且所述第四信號的所述電壓低于所述第二參考信號的所述電壓時，所述第一比較器輸出所述兩個邏輯值中的第一邏輯值，或在相反情況下，輸出所述兩個邏輯值中的第二邏輯值，并且

其中當所述第四信號的所述電壓高于所述第一參考信號的所述電壓且所述第三信號的所述電壓低于所述第二參考信號的所述電壓時，所述第二比較器輸出所述第一邏輯值，或在相反情況下，輸出所述第二邏輯值。

6.根據權利要求5所述的多電平檢測器，其中當所述第一比較器和所述第二比較器中的至少一個輸出所述第一邏輯值時，所述運算單元輸出表示高電平的所述多電平檢測結果，否則輸出表示低電平的所述多電平檢測結果。