[發(fā)明專利]自由空間指點(diǎn)和手寫(xiě)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200580051302.0 | 申請(qǐng)日: | 2005-08-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101238428A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 葉勤中 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 葉勤中 |
| 主分類號(hào): | G06F3/033 | 分類號(hào): | G06F3/033 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 曾祥夌;魏軍 |
| 地址: | 瑞典諾*** | 國(guó)省代碼: | 瑞典;SE |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 自由空間 指點(diǎn) 手寫(xiě) | ||
1.一種確定便攜式自由空間數(shù)據(jù)輸入裝置(20)的位置的方法,所述方法包括以下步驟:
在光學(xué)位置檢測(cè)裝置(30)中接收來(lái)自所述便攜式自由空間數(shù)據(jù)輸入裝置的第一組脈沖(CS),所述第一組脈沖包括含有要處理的數(shù)據(jù)的至少一個(gè)脈沖(CS1,CS3);
在所述光學(xué)位置檢測(cè)裝置中接收來(lái)自所述便攜式自由空間數(shù)據(jù)輸入裝置的光脈沖形式的第二組脈沖(LEN),所述第二組脈沖包括至少一個(gè)位置指示脈沖(P2);
將所述第二組脈沖中的各脈沖限制成具有確定的第一橫截面形狀的至少一個(gè)第一光束;
把所述至少一個(gè)光束投影在其中提供至少第一一維檢測(cè)器陣列的平面(33)上,以便在所述平面上建立明暗區(qū)域圖案;
在每一個(gè)檢測(cè)器陣列中檢測(cè)投影在它上面的所述圖案的一部分;和
根據(jù)由每一個(gè)檢測(cè)器陣列檢測(cè)到的所述圖案各部分的明暗區(qū)域之間的接合,確定所述便攜式自由空間數(shù)據(jù)輸入裝置的至少二維的位置,以便允許把所述位置同所述輸入數(shù)據(jù)一起使用。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其中還包括以下步驟:把所述第一組脈沖從所述便攜式自由空間數(shù)據(jù)輸入裝置發(fā)送(24)到所述光學(xué)位置檢測(cè)裝置;和發(fā)送(22)供在所述光學(xué)位置檢測(cè)裝置中接收的所述第二組脈沖。
3.如權(quán)利要求2所述的方法,其中發(fā)送所述第二組光脈沖的步驟包括:把所述第二組脈沖從所述便攜式自由空間數(shù)據(jù)輸入裝置發(fā)送到所述光學(xué)位置檢測(cè)裝置。
4.如上述權(quán)利要求中任何一個(gè)所述的方法,其中還包括:在檢測(cè)位置指示脈沖(P2)之前和/或之后,在每一個(gè)檢測(cè)器陣列中檢測(cè)環(huán)境光線(P1)的步驟,以及還包括對(duì)于每一個(gè)檢測(cè)器陣列,從檢測(cè)到的包含所述脈沖的光中減去所述之前和/或之后檢測(cè)到的環(huán)境光線以便安全地檢測(cè)所述脈沖的步驟。
5.如權(quán)利要求4所述的方法,其中在檢測(cè)位置指示脈沖的前后檢測(cè)環(huán)境光線,以及所述方法還包括以下步驟:組合在檢測(cè)位置指示脈沖的前后檢測(cè)到的環(huán)境光線以及在所述減法步驟中使用所述組合的檢測(cè)到的環(huán)境光線。
6.如權(quán)利要求4或5所述的方法,其中所述第一組脈沖包括指示發(fā)送所述第二組脈沖的時(shí)間的至少一個(gè)同步脈沖(CS2),以及所述方法還包括以下步驟:根據(jù)所述同步脈沖控制(SEN)對(duì)環(huán)境光線和包含位置指示脈沖的光的檢測(cè)。
7.如權(quán)利要求6所述的方法,還包括以下步驟:根據(jù)所述至少一個(gè)同步脈沖來(lái)安排發(fā)送所述第二組光脈沖的時(shí)間。
8.如上述權(quán)利要求中任何一個(gè)所述的方法,其中所述第一組脈沖包括指示要處理的數(shù)據(jù)的起始的至少一個(gè)起始脈沖(CS1)和指示要處理的數(shù)據(jù)的結(jié)束的至少一個(gè)結(jié)束脈沖(CS3),以及所述方法還包括以下步驟:當(dāng)接收到所述起始脈沖時(shí)激活所有檢測(cè)器陣列;和當(dāng)接收到所述結(jié)束脈沖時(shí)將所有檢測(cè)器陣列去激活。
9.如上述權(quán)利要求中任何一個(gè)所述的方法,其中沿所述第一一維檢測(cè)器的長(zhǎng)度方向的接合位置用于確定至少第一維的位置。
10.如權(quán)利要求9所述的方法,其中兩個(gè)檢測(cè)到的接合處之間的距離用于確定第二維的位置。
11.如權(quán)利要求9所述的方法,其中所述第一形狀是矩形,當(dāng)所述矩形投影在所述第一檢測(cè)器陣列上時(shí),所述矩形的長(zhǎng)邊垂直于所述第一檢測(cè)器陣列,并且所述方法還包括以下步驟:把所述第二組脈沖的各脈沖限制(34b)成具有第二橫截面形狀的第二光束,所述第二橫截面形狀對(duì)應(yīng)于將所述第一形狀旋轉(zhuǎn)90度;把所述第二光束投影在所述平面(33)上以便建立所述圖案,其中與所述第二光束相關(guān)聯(lián)的沿一維檢測(cè)器陣列的長(zhǎng)度方向的接合位置用于確定第二維的位置。
12.如權(quán)利要求11所述的方法,其中還包括以下步驟:在將所述第二光束投影在所述平面上之前,將所述第二光束旋轉(zhuǎn)90度。
13.如權(quán)利要求11所述的方法,其中所述平面包括取向垂直于所述第一陣列的第二一維檢測(cè)器陣列以及將所述第二光束投影在所述第二檢測(cè)器陣列上。
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