[發(fā)明專利]電子器件陣列有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200580047427.6 | 申請日: | 2005-12-16 |
| 公開(公告)號: | CN101111937A | 公開(公告)日: | 2008-01-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 保羅·A·凱恩 | 申請(專利權(quán))人: | 造型邏輯有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/00 | 分類號: | H01L27/00;H01L51/10;H01L51/40 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 王以平 |
| 地址: | 英國*** | 國省代碼: | 英國;GB |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子器件 陣列 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及制造電子器件陣列的技術(shù),特別涉及但不僅僅涉及電 子器件陣列的生產(chǎn)中的半導(dǎo)體層的構(gòu)圖方法,所述電子器件例如半導(dǎo) 體聚合物薄膜晶體管(TFT)。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體共軛聚合物薄膜晶體管(TFT)近來引起了集成于塑料襯 底的廉價(jià)邏輯電路(C.Drury等,APL?73,108(1998))和光電子集 成器件以及高分辨率有源矩陣顯示中的晶體管開關(guān)(H.Sirringhaus 等,Science?280,1741(1998),A.Dodabalapur等,Appl.Phys.Lett. 73,142(1998))等應(yīng)用的關(guān)注。在具有聚合物半導(dǎo)體、無機(jī)金屬電極 和柵電介質(zhì)層的測試器件構(gòu)造中高性能TFT已經(jīng)給出了示例。電荷 載流子遷移率已經(jīng)達(dá)到0.1cm2/Vs,開關(guān)(ON-OFF)電流比達(dá)到106~ 108,已經(jīng)可與無定形硅TFT具有可比性(H.Sirringhaus等,Advances In?Solid?State?Physics?39,101(1999))。
共軛聚合體半導(dǎo)體的滿足器件質(zhì)量要求的薄膜可以通過在襯底 上涂布在有機(jī)溶劑中的聚合物溶液形成。該技術(shù)因此理想地適合廉價(jià) 的、與柔性的塑料襯底兼容的大面積溶液處理。
有機(jī)TFT應(yīng)用容易在器件中的元件諸如充電了的像素和邏輯門 元件之間發(fā)生漏電流。因此對于很多TFT應(yīng)用而言,有源半導(dǎo)體層 需要在器件之間進(jìn)行隔離。為了減小電氣串?dāng)_以及消除相鄰器件之間 的寄生漏電流,該措施是必需的。即使半導(dǎo)體材料未摻雜,貫通半導(dǎo) 體層的漏電流也是顯著的,尤其是具有高晶體管排列密度的電路例如 高分辨率有源矩陣顯示裝置。
在有源矩陣顯示裝置中,淀積用于像素尋址的金屬互連以使其以 貫穿顯示裝置的方式放置。如果半導(dǎo)體材料出現(xiàn)在這樣的互連線下 方,會(huì)在位于互連線下方的層中形成寄生TFT的溝道,從而會(huì)在像 素之間產(chǎn)生不可忽視的漏電流。這種漏電流會(huì)導(dǎo)致器件性能的下降。 因此,如果在整個(gè)面板上涂布未構(gòu)圖的半導(dǎo)體層,需要對該層進(jìn)行構(gòu) 圖。
半導(dǎo)體可以以旋轉(zhuǎn)涂布可溶液加工的半導(dǎo)體、例如F8T2的方式 淀積;或者以蒸發(fā)淀積其他半導(dǎo)體、例如并五苯(pentacene)的方式。 但是即使上述兩種情況中的未摻雜半導(dǎo)體層,在器件中的元件與柵極 互連下方的區(qū)域之間的半導(dǎo)體材料在柵極被激活時(shí)會(huì)電活躍。
理想地,半導(dǎo)體的構(gòu)圖方法為數(shù)字的以允許在大面積面板上進(jìn)行 扭曲校正,例如,在制造大型的柔性顯示裝置中。其結(jié)果,用于如并 五苯(Pentacene)的半導(dǎo)體的應(yīng)用的蔭罩式工藝不適合大面積半導(dǎo)體 的構(gòu)圖,這是由于對于給定的掩模不能進(jìn)行扭曲校正。
可溶液加工的半導(dǎo)體的一種構(gòu)圖方法是只在需要處、例如直接在 晶體管溝道區(qū)域上方用噴墨法印制半導(dǎo)體。這是一個(gè)數(shù)字加工的例子 并具有有效利用半導(dǎo)體材料的額外的優(yōu)點(diǎn)。利用這種工藝可獲得的最 高分辨率受限于在襯底薄膜上淀積的半導(dǎo)體液滴的擴(kuò)散。該工藝的另 一問題是液滴的擴(kuò)散取決于所要在其上進(jìn)行印刷的表面,因此不考慮 對半導(dǎo)體構(gòu)圖工序的影響就不能輕易改變襯底材料。這減少了可選擇 的襯底。其他用于從溶液構(gòu)圖半導(dǎo)體層的直寫(direct-write)印刷工 藝,例如膠版印刷或者網(wǎng)屏印刷也有同樣的問題。
也可以使用光刻進(jìn)行有源半導(dǎo)體層的構(gòu)圖(Gerwin.H.Gelinck 等,Nature?Materials?3,106-110(2004))。但光刻需要多道工序,會(huì) 因半導(dǎo)體和抗蝕劑的化學(xué)藥劑/溶劑的化學(xué)反應(yīng)導(dǎo)致有機(jī)半導(dǎo)體材料 的惡化,難以在尺寸不穩(wěn)定的柔性襯底上工作,特別是當(dāng)在大的襯底 區(qū)域上需要具有與先前淀積圖案的高配準(zhǔn)精度時(shí)。例如US6803267說 明了一種用于對有機(jī)半導(dǎo)體材料構(gòu)圖的包括多個(gè)工藝步驟的制造有 機(jī)存儲器件的方法。該多步驟工藝包括在有機(jī)半導(dǎo)體上淀積硅基抗蝕 劑,照射硅基抗蝕劑的一部分,對硅基抗蝕劑構(gòu)圖以去除硅基抗蝕劑 的被照射部分,對曝光了的有機(jī)半導(dǎo)體構(gòu)圖,并剝離未照射的硅基抗 蝕劑。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種用于在制造電子器件陣列中對溝道 材料構(gòu)圖的方法,其至少部分解決了上述問題。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





