[發明專利]射頻測試接口

無效

• 申請號: 200580045154.1
• 申請日: 2005-08-09
• 公開（公告）號: CN101258648A
• 公開（公告）日: 2008-09-03
• 發明（設計）人: S·L·萬斯
• 申請（專利權）人: 索尼愛立信移動通訊股份有限公司
• 主分類號: H01R13/646
• 分類號: H01R13/646;G01R1/20
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 崔幼平;黃力行

1、一種用于電子裝置的射頻測試接口，它包括：

電路板，所述電路板包括射頻觸點并且具有穿過所述電路板延伸的開口；

天線，所述天線構形成接合所述射頻觸點；

測試連接器，所述測試連接器包括構形成接合所述射頻觸點的導電觸點和非導電柱，所述非導電柱構形成通過所述電路板的所述開口被接納，以使所述天線與所述射頻觸點脫開接合。

2、如權利要求1所述的射頻測試接口，其特征在于，所述射頻觸點穿過所述電路板延伸且所述導電觸點構形成接合位于所述電路板的第一側的所述射頻觸點，而所述天線構形成接合位于所述電路板的所述第二側的所述射頻觸點。

3、如權利要求1所述的射頻測試接口，其特征在于，所述天線包括天線觸點，所述天線觸點包括片簧。

4、如權利要求1所述的射頻測試接口，其特征在于，所述測試連接器是彈簧加載的測試連接器。

5、如權利要求1所述的射頻測試接口，其特征在于，所述電路板還包括接地觸點，和其中所述導電觸點是第一導電觸點，以及所述測試連接器還包括第二導電觸點，所述第二導電觸點構形成接合所述接地觸點。

6、如權利要求1所述的射頻測試接口，其特征在于，所述電路板還包括相配的部件觸點，其中所述天線包括第一部分，所述第一部分構形成接合所述射頻觸點，以及第二部分，所述第二部分構形成接合所述相配的部件觸點，和其中所述非導電柱構形成通過所述電路板的所述開口被接納，以使所述第一天線部分與所述射頻觸點脫開接合。

7、如權利要求1所述的射頻測試接口，其特征在于，所述電路板還包括接地觸點，所述天線包括第一部分，所述第一部分構形成接合所述射頻觸點，以及第二部分，所述第二部分構形成接合所述接地觸點，和其中所述非導電柱構形成通過所述電路板的所述開口被接納，以使所述第一天線部分與所述射頻觸點脫開接合。

8、如權利要求7所述的射頻測試接口，其特征在于，所述天線為平面倒F天線。

9、如權利要求1所述的射頻測試接口，其特征在于，所述測試連接器為50歐姆的測試連接器。

10、如權利要求1所述的射頻測試接口，其特征在于，所述電子裝置為移動終端。

11、一種用于電子裝置的射頻測試接口，它包括：

電路板，所述電路板包括射頻觸點；

天線，所述天線包括彈性件，所述彈性件促使所述天線接合所述射頻觸點；和

測試連接器，所述測試連接器包括導電觸點，且構形成接合所述彈性件，從而將所述天線與所述射頻觸點脫開接合，以使所述導電觸點能夠接合所述射頻觸點。

12、如權利要求11所述的射頻測試接口，其特征在于，所述彈性件包括呈錐形的部分，且其中所述測試連接器構形成接合所述彈性件的所述呈錐形的部分。

13、如權利要求11所述的射頻測試接口，其特征在于，其還包括對準結構，所述對準結構構形成接納從中穿過的所述測試連接器，從而定位所述導電觸點對齊于所述射頻觸點。

14、如權利要求13所述的射頻測試接口，其特征在于，所述對準結構包括在所述電子裝置的外殼上的開口。

15、如權利要求11所述的射頻測試接口，其特征在于，所述電路板還包括接地觸點，和其中所述導電觸點為第一導電觸點，而所述測試連接器還包括第二導電觸點，所述第二導電觸點構形成接合所述接地觸點。

16、如權利要求11所述的射頻測試接口，其特征在于，所述電路板還包括相配的部件觸點，其中所述天線包括第一部分，所述第一部分構形成接合所述射頻觸點，以及第二部分，所述第二部分構形成接合所述相配的部件觸點，和其中所述測試連接器構形成接合所述彈性件，從而將所述第一天線部分從所述射頻觸點移開。

17、如權利要求11所述的射頻測試接口，其特征在于，所述電路板還包括接地觸點，其中所述天線包括第一部分，所述第一部分構形成接合所述射頻觸點，以及第二部分，所述第二部分構形成接合所述接地觸點，和其中所述測試連接器構形成接合所述彈性件，從而將所述第一天線部分從所述射頻觸點移開。