[發明專利]用于光學信號的過渡偏移定時

無效

• 申請號: 200580043846.2
• 申請日: 2005-12-14
• 公開（公告）號: CN101084551A
• 公開（公告）日: 2007-12-05
• 發明（設計）人: R·弗盧特斯
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦電子股份有限公司
• 主分類號: G11B20/10
• 分類號: G11B20/10
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 李亞非;譚祐祥

1、一種確定來自光學記錄介質(11)的所測量的光學信號中的一系列通道比特(30)中的過渡偏移(37)的定時的方法，該光學信號包括從具有第一寬度(311)的第一區域(22)反射的第一部分(28，31)以及從具有第二寬度(321)的第二區域(23)反射的第二部分(27，32)，其中，從第一區域到第二區域的過渡被標記為由第一和第二寬度索引的前沿(33)，并且從第二區域到第一區域的過渡被標記為由第二和第一寬度索引的后沿(34)，該方法包括以下步驟：

a)以中心孔徑信號(CA信號)的形式提供所測量的光學信號的值；

b)提供對應于所測量的光學信號的調制比特；

c)通過光學通道模型計算模型信號，所計算的模型包括所述前沿和后沿的輸入定時，所述輸入定時是一系列輸入過渡偏移；

d)從考慮到所測量的光學信號、所述調制比特和所計算的模型信號的數學模型確定所述前沿和后沿的輸出定時，所述輸出定時是一系列輸出過渡偏移，

其中，在評估步驟中使用的輸入定時是在前一個評估步驟中確定的輸出定時，并且所述模型與所測量的信號之間的差異與所述輸入定時一起被用來計算后續的輸出定時；以及

e)繼續所述評估序列，直到在特定評估步驟中獲得的一系列輸出過渡偏移滿足預定標準，

其中，最后獲得的一系列輸出過渡偏移是所測量的CA信號的通道比特的平均過渡偏移(500，501)。

2、根據權利要求1的方法，其中，用線性光學模型來表示所述所計算的模型信號，該線性光學模型由離散有限脈沖響應(FIR)實現方式近似。

3、根據權利要求1的方法，其中，所測量的光學信號和所計算的模型信號都通過比特同步近似來表示，其與所述光學介質上的所述調制比特同步。

4、根據權利要求1的方法，其中，在誤差環路中把所述模型與所述所測量的信號之間的差異最小化，在該誤差環路中均方誤差被最小化。

5、根據權利要求1的方法，其中，作為在特定過渡偏移之前的該區域的寬度和后面的區域的寬度的函數來確定所述前沿(500)和后沿(501)的定時。

6、根據權利要求1的方法，其中，根據特定類型的前沿和/或后沿的平均過渡偏移來優化用于在光學介質上寫入特定光學效應的寫入脈沖(60，100，120，150)中的一個或多個寫入參數(E，W，B，C，D)。

7、根據權利要求6的方法，還包括以下步驟：

α)從光學存儲介質(11)中讀取光學效應(23)的模式(29)，該模式包括一個或多個光學效應，所述一個或多個光學效應當中的每一個與預定寫入策略(60，100，120，150)相關聯，該寫入策略包括一個或多個寫入參數(E，W，B，C，D)；

β)執行權利要求1的方法，從而提供所述所測量的CA信號的通道比特的所述平均過渡偏移；以及

γ)通過一組預定規則調節所述一個或多個寫入參數。

8、根據權利要求7的方法，其中，通過使用所述調節后的寫入參數以及重復所述步驟α)、β)和γ)向所述光學存儲介質提供光學效應的加模式。

9、根據權利要求7的方法，其中，所述一個或多個寫入參數包括：

功率電平和/或電平持續時間(151)。

10、一種用于運行權利要求1的方法的模塊，該模塊包括：

第一輸入部分，其用于以所測量的所采樣波形的形式輸入所述CA信號；

第二輸入部分，其用于輸入通道比特流；

用于根據權利要求1的方法處理該CA信號和該通道比特流的裝置；以及

輸出部分，其用于輸出所述所測量的CA信號的通道比特的所述平均過渡偏移；以及

可選的處理裝置，其用于根據所述規則評估所述過渡偏移。

11、一種光學記錄設備(1)，包括：

-輻射源(6)，其用于發射具有可控寫入功率電平(P)值的輻射光束(3)以便在所述記錄介質上記錄光學效應(23)；

-讀取單元(7)，其用于讀取所記錄的效應并且形成相應的讀取信號部分；

-根據由權利要求1的方法確定的所述所測量的CA信號的特定類型的前沿和/或后沿的所述平均過渡偏移(500，501)來調節寫入策略中的功率電平和/或電平持續時間的裝置。