[發(fā)明專利]用于檢測和減輕光學(xué)系統(tǒng)中的光學(xué)損傷的方法和裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201580015330.0 | 申請日： | 2015-03-18 |
| 公開（公告）號： | CN106416241B | 公開（公告）日： | 2019-07-26 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 莊司武;J.德林卡德;A.泰亞吉 | 申請（專利權(quán)）人： | 歐姆龍株式會社 |
| 主分類號： | H04N13/296 | 分類號： | H04N13/296;H04N13/246;H04N13/239;G06T7/00 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周學(xué)斌;陳嵐 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 檢測 減輕 光學(xué)系統(tǒng) 中的 光學(xué) 損傷 方法 裝置 | ||
【說明書】：
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