[發明專利]電子器件處理裝置和不良端子確定方法

無效

• 申請號: 200580041108.4
• 申請日: 2005-11-25
• 公開（公告）號: CN101069100A
• 公開（公告）日: 2007-11-07
• 發明（設計）人: 市川雅理
• 申請（專利權）人: 株式會社愛德萬測試
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01B11/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 李春暉

1.一種電子器件處理裝置，用于將電子器件傳送到接觸部分并使其與該接觸部分接觸，以便測試該電子器件的電學屬性，所述電子器件處理裝置包括：

用于存儲作為標準的電子器件的各個端子的標準位置信息的存儲設備；

用于給待測試電子器件的端子拍照的圖像拍攝裝置；

用于從由所述圖像拍攝裝置拍攝的待測試電子器件的端子的圖像數據中獲得各個端子的位置信息的端子位置信息獲取裝置；和

不良端子確定裝置，該裝置通過從所述存儲設備中讀取作為標準的電子器件的各個端子的標準位置信息，并將讀出的各個端子的標準位置信息與由所述端子位置信息獲取裝置獲得的待測試電子器件的各個端子的位置信息進行比較，從而確定待測試電子器件的端子的缺失和/或排列位置缺陷。

2.如權利要求1所述的電子器件處理裝置，其中，

所述電子器件處理裝置還包括能夠保持待測試的電子器件并將其壓向所述接觸部分的傳送裝置；以及

所述圖像拍攝裝置拍攝由所述傳送裝置保持的測試前電子器件的端子的圖像。

3.如權利要求2所述的電子器件處理裝置，其中，

所述電子器件處理裝置還包括位置修正量計算裝置，用于通過比較從所述存儲設備中讀出的作為標準的電子器件的各個端子的標準位置信息和由所述端子位置信息獲取裝置獲得的待測試電子器件的各個端子的位置信息，從而獲得待測試電子器件的位置的修正量；以及

所述傳送裝置包括位置修正裝置，用于基于由所述位置修正量計算裝置獲得的修正量來修正由所述傳送裝置保持的待測試電子器件的位置。

4.如權利要求1到3之一所述的電子器件處理裝置，其中，

被所述不良端子確定裝置確定為端子缺失或者端子的排列位置有缺陷的待測試電子器件免于接受電測試和/或被分類為不良電子器件。

5.如權利要求2或3所述的電子器件處理裝置，其中，

所述傳送裝置能夠保持多個待測試的IC器件，并將被所述不良端子確定裝置確定為沒有缺失的端子或者在端子的排列位置方面沒有缺陷的待測試電子器件壓向所述接觸部分，但是不將被確定為其端子缺失或者端子的排列位置有缺陷的電子器件壓向所述接觸部分。

6.如權利要求1所述的電子器件處理裝置，其中，所述圖像拍攝裝置給測試前的電子器件的端子和測試后的電子器件的端子拍照。

7.如權利要求6所述的電子器件處理裝置，還包括：

第二不良端子確定裝置，用于通過比較從由所述圖像拍攝裝置拍攝的測試后電子器件的端子的圖像數據中獲得的各個端子的位置信息和從所述存儲設備中讀取的作為標準的電子器件的各個端子的標準位置信息，來確定測試后電子器件的端子的缺失和/或排列位置缺陷。

8.如權利要求6所述的電子器件處理裝置，還包括：

第二不良端子確定裝置，用于通過比較從由所述圖像拍攝裝置拍攝的測試后電子器件的端子的圖像數據中獲得的各個端子的位置信息和由所述端子位置信息獲取裝置獲得的測試前電子器件的各個端子的位置信息，來確定測試后電子器件的端子的缺失和/或排列位置缺陷。

9.如權利要求7或8所述的電子器件處理裝置，其中被所述第二不良端子確定裝置確定為端子缺失或者端子的排列位置有缺陷的待測試電子器件被分類為不良電子器件。

10.如權利要求7到9之一所述的電子器件處理裝置，其中，當所述第二不良端子確定裝置確定端子缺失或者端子的排列位置有缺陷時，發出警報。

11.如權利要求7到10之一所述的電子器件處理裝置，其中，

所述電子器件處理裝置還包括顯示設備；以及

當所述第二不良端子確定裝置確定端子缺失或者端子的排列位置有缺陷時，所述顯示設備顯示有關不良端子的信息。