[發明專利]測定調諧器特性的裝置

無效

• 申請號: 200580039531.0
• 申請日: 2005-09-29
• 公開（公告）號: CN101061651A
• 公開（公告）日: 2007-10-24
• 發明（設計）人: 石田謙一;常本英治
• 申請（專利權）人: 利達電子株式會社
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;G01R27/28;H04N17/04
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 吳麗麗

技術領域

本發明一般涉及測定調諧器特性的裝置，更詳細地涉及為了調整 或檢查調諧器，高速地測定調諧器特性的裝置。

背景技術

圖1表示按照已有技術的、測定調諧器特性的裝置的功能方框圖， 圖2是用于說明按照已有技術的、測定調諧器特性的方法的流程圖。 如圖1所示，已有的裝置備有CPU1、PLL頻率合成器2、線性檢波 單元3、對數檢波單元4、VSWR(Voltage?Standing?Wave?Ratio(電 壓駐波比))測定單元5、開關6和A/D轉換器7。

首先，CPU1將用于將調諧頻率(頻道頻率)設定在規定頻率(例 如，801.25MHz)上的控制信號輸出到調諧器10(步驟201)。調諧 器10與控制信號相應地，將調諧頻率設定在規定頻率上。調諧器10 進一步生成持有將調諧頻率和中間頻率(例如，43.5MHz)加起來的 頻率(局部頻率(例如，844.75MHz))的信號。

(線性測定)

CPU1以開關6從線性檢波單元3輸入具有中間頻率的信號電壓， 將其輸出到A/D轉換器7的方式，設定開關6(步驟202)。

下面，CPU1將用于將掃描頻率(Fs)設定在第1頻率(初始頻 率)(Fs1)(例如，787.75MHz)上的第1控制信號輸出到PLL頻 率合成器2(步驟203)。PLL頻率合成器2與第1控制信號相應地， 生成具有第1頻率(Fs1)的RF信號，將其輸出到調諧器10和VSWR 測定單元5。調諧器10從PLL頻率合成器2輸入具有第1頻率(Fs1) 的RF信號，將RF信號的反射信號輸出到VSWR測定單元5。調諧 器10將具有第1頻率(Fs1)的RF信號和帶有局部頻率的信號混合 起來，生成混合信號。調諧器10進一步用與中間頻率對應的濾波器對 混合信號進行濾波，生成具有中間頻率的信號。調諧器10將具有中間 頻率的信號輸出到線性檢波單元3和對數檢測單元4。

線性檢波單元3從調諧器10輸入具有中間頻率的信號，檢測具 有中間頻率的信號電壓。線性檢波單元3將具有中間頻率的信號電壓 輸出到開關6。開關6從線性檢波單元3輸入具有中間頻率的信號電 壓，將其輸出到A/D轉換器7。A/D轉換器7將具有中間頻率的信號 電壓變換成數字值，輸出到CPU1。CPU1在將第1控制信號輸出到 PLL頻率合成器2后，經過規定的掃描間隔(Δts)(例如，3μsec) 前，從A/D轉換器7取入數字值，將數字值和第1頻率(Fs1)作為 第1線性測定值存儲起來(步驟203)

CPU1判定掃描頻率(Fs)是否與第n頻率(最終頻率)(Fsn) (例如，814.75MHz)相等或比它小(步驟204)。當掃描頻率(Fs) 與第n頻率(Fsn)相等或比它小時，CPU1判定掃描沒有結束。當掃 描頻率(Fs)不與第n頻率(Fsn)相等或不比它小時，CPU1判定掃 描結束了。

當掃描頻率(Fs)與第n頻率(Fsn)相等或比它小時，CPU1 對每個規定的掃描間隔(Δts)，使掃描頻率(Fs)只增加規定頻率(ΔFs) (例如，0.0225MHz)(步驟203)。即，當從輸出第1控制信號時 只經過規定的掃描間隔(Δts)時，CPU1將用于將掃描頻率(Fs)設 定在第2頻率(Fs2＝Fs1+ΔFs)上的第2控制信號輸出到PLL頻率合 成器2。PLL頻率合成器2生成具有第2頻率(Fs2)的RF信號，調 諧器10將具有第2頻率的RF信號和帶有局部頻率的信號混合起來， 此后，用與中間頻率對應的濾波器生成具有中間頻率的信號。線性檢 波單元3檢測具有中間頻率的信號電壓，開關6將具有中間頻率的信 號電壓輸出到A/D轉換器7，A/D轉換器7將具有中間頻率的信號電 壓變換成數字值，輸出到CPU1。CPU1在將第2控制信號輸出到PLL 頻率合成器2后，經過規定的掃描間隔(Δts)前，從A/D轉換器7 取入數字值，將數字值和第2頻率(Fs2)作為第2線性測定值存儲起 來(步驟203)。