[發明專利]一種異常處理方法及模塊

有效

• 申請號: 201610081241.2
• 申請日: 2016-02-04
• 公開（公告）號: CN107036645B
• 公開（公告）日: 2019-08-06
• 發明（設計）人: 孫雙立
• 申請（專利權）人: 上海晨興希姆通電子科技有限公司
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02
• 代理公司: 上海晨皓知識產權代理事務所(普通合伙) 31260
• 代理人: 成麗杰

本發明涉及電子技術領域，公開了一種異常處理方法及模塊。本發明中，當一個操作箱發生異常時，判斷異常操作箱所在的功能操作組是否僅包含異常操作箱；若僅包含異常操作箱，則判斷工件操作系統中是否存在滿足預設條件的功能操作組；預設條件為功能操作組包含多個操作箱；若存在滿足預設條件的功能操作組，則從功能操作組包含的多個操作箱中選擇至少一個操作箱，其中，所述選擇的操作箱的數目小于所述功能操作組中包含的操作箱的數目；將選擇的操作箱劃分至異常操作箱所在的功能操作組。通過這種方式，當有操作箱發生異常時，工件操作系統能夠自動地重新配置各操作箱的操作功能，以確保工件操作系統能夠完成全項功能操作。

技術領域

本發明涉及自動控制技術領域，特別涉及一種異常處理方法及模塊。

背景技術

隨著經濟的發展，人們對電子產品的可靠性要求越來越高。高可靠性的電子產品通常具有長的使用壽命，能夠給使用者提供高的性價比。在半導體行業中，完成半導體芯片的生產之后，通常會對半導體芯片進行許多功能測試，以識別并挑選出壞片，只有通過測試的合格芯片才可以銷售使用。芯片測試系統在對芯片進行測試時，常采用測試箱進行測試，一個測試箱對應一個測試功能，測試完成后，各測試箱會將測試結果進行反饋。

然而，在對芯片進行測試時，很可能出現一個測試箱異常，導致芯片測試系統無法對芯片完成全項功能測試的情況，此時則需要技術人員人工對該測試系統中的多個測試箱重新調整，較為費事費力，且降低了芯片測試效率。

發明內容

本發明的目的在于提供一種異常處理方法及模塊，當有操作箱發生異常時，工件操作系統能夠自動地重新配置各操作箱的操作功能，以確保工件操作系統能夠完成全項功能操作。

為解決上述技術問題，本發明的實施方式提供了一種異常處理方法，應用于包含多個功能操作組的工件操作系統，各功能操作組對應于一種功能項操作且各功能操作組包含至少一操作箱，異常處理方法包含以下步驟：當一個操作箱發生異常時，判斷異常操作箱所在的功能操作組是否僅包含異常操作箱；若僅包含異常操作箱，則判斷工件操作系統中是否存在滿足預設條件的功能操作組；預設條件為功能操作組包含多個操作箱；若存在滿足預設條件的功能操作組，則從功能操作組包含的多個操作箱中選擇至少一個操作箱，其中，所述選擇的操作箱的數目小于所述功能操作組中包含的操作箱的數目；將選擇的操作箱劃分至異常操作箱所在的功能操作組。

本發明的實施方式還提供了一種異常處理模塊，包含：應用于包含多個功能操作組的工件操作系統，各功能操作組對應于一種功能項操作，異常處理模塊包含：數目判斷單元、操作箱選擇單元以及組別劃分單元；當一個操作箱發生異常時，數目判斷單元用于判斷異常操作箱所在的功能操作組是否僅包含異常操作箱；若是，數目判斷單元還用于判斷是否存在滿足預設條件的功能操作組；預設條件為功能操作組包含多個操作箱；操作箱選擇單元用于從功能操作組包含的多個操作箱中選擇至少一個操作箱，其中，選擇的操作箱的數目小于功能操作組中包含的操作箱的數目；組別劃分單元用于將選擇的操作箱劃分至異常操作箱所在的功能操作組。

本發明實施方式相對于現有技術而言，當一個操作箱發生異常時，判斷異常操作箱所在的功能操作組是否僅包含異常操作箱；若僅包含異常操作箱，則判斷工件操作系統中是否存在滿足預設條件的功能操作組；預設條件為功能操作組包含多個操作箱；若存在滿足預設條件的功能操作組，則從功能操作組包含的多個操作箱中選擇至少一個操作箱；將選擇的操作箱劃分至異常操作箱所在的功能操作組。通過這種方式，當有一個功能操作組的操作箱出現異常，而使得工件操作系統無法完成全項功能操作時，工件操作系統的異常處理模塊會自動對該情況進行處理，及時的利用其它功能操作組中的正常操作箱頂替該異常操作箱。即，工件操作系統具有自我調節、修復的功能，能夠自動地重新配置各操作箱的操作功能，以確保工件操作系統能夠完成全項功能操作。