[發(fā)明專利]BRDF測(cè)量系統(tǒng)零位校準(zhǔn)方法無(wú)效

申請(qǐng)?zhí)枺?/td>	200510038628.1	申請(qǐng)日：	2005-03-28
公開(kāi)（公告）號(hào)：	CN1693876A	公開(kāi)（公告）日：	2005-11-09
發(fā)明（設(shè)計(jì)）人：	劉文清;張百順;魏慶農(nóng);陳軍;王亞萍;王鋒平;胡軍	申請(qǐng)（專利權(quán)）人：	中國(guó)科學(xué)院安徽光學(xué)精密機(jī)械研究所
主分類號(hào)：	G01N21/00	分類號(hào)：	G01N21/00;G01N37/00;G01B11/30;G01J1/00
代理公司：	合肥華信專利商標(biāo)事務(wù)所	代理人：	余成俊
地址：	230031安***	國(guó)省代碼：	安徽;34
權(quán)利要求書(shū)：	查看更多	說(shuō)明書(shū)：	查看更多
摘要：
搜索關(guān)鍵詞：	brdf 測(cè)量系統(tǒng) 零位校準(zhǔn) 方法
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專利分類

G 物理

G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)

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