[實(shí)用新型]用激光干涉儀檢測(cè)分體式激光對(duì)刀儀重復(fù)精度的裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201620554281.X | 申請(qǐng)日： | 2016-06-08 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN205748270U | 公開（公告）日： | 2016-11-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 王慶朋;郝天陽;隋繼平;張繼德;宋振偉;李俊 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 科德數(shù)控股份有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01B11/00 | 分類號(hào)： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 大連東方專利代理有限責(zé)任公司 21212 | 代理人： | 孟兆華;李洪福 |
| 地址： | 116600 遼*** | 國(guó)省代碼： | 遼寧;21 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 激光 干涉儀 檢測(cè) 體式 重復(fù) 精度 裝置 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于科德數(shù)控股份有限公司，未經(jīng)科德數(shù)控股份有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201620554281.X/2.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇：一種貨叉及托盤結(jié)構(gòu)
- 下一篇：一種微波漏能測(cè)試儀
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
