[發明專利]TDI檢測裝置、饋通裝置、應用這些裝置的電子束設備以及應用以電子束設備的半導體器件制造方法無效
| 申請號: | 02809989.3 | 申請日: | 2002-05-14 |
| 公開(公告)號: | CN1520680A | 公開(公告)日: | 2004-08-11 |
| 發明(設計)人: | 畠山雅規;佐竹徹;村上武司;渡邊賢治;野路伸治 | 申請(專利權)人: | 株式會社荏原制作所 |
| 主分類號: | H04N3/15 | 分類號: | H04N3/15;H01J37/26;G01N21/956;H01R13/00 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人: | 杜日新 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | tdi 檢測 裝置 應用 這些 電子束 設備 以及 用以 半導體器件 制造 方法 | ||
【說明書】:
下載完整專利技術內容需要扣除積分,VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于株式會社荏原制作所,未經株式會社荏原制作所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/02809989.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





