[發明專利]測定同位素氣體的光譜學方法及其儀器無效
| 申請號： | 02155714.4 | 申請日： | 1996-10-02 |
| 公開（公告）號： | CN1495423A | 公開（公告）日： | 2004-05-12 |
| 發明（設計）人： | 久保康弘;森澤且廣;座主靖;池上英司;筒井和典;浜尾保;森正昭;丸山孝 | 申請（專利權）人： | 大塚制藥株式會社 |
| 主分類號： | G01N21/35 | 分類號： | G01N21/35;A61B5/00 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人： | 唐曉峰 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測定 同位素 氣體 光譜 方法 及其 儀器 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于大塚制藥株式會社，未經大塚制藥株式會社許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/02155714.4/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：測定同位素氣體的光譜學方法及其儀器
- 下一篇：識別氣體類型的方法和系統
