[發(fā)明專利]一種與射線源配套的智能掃描限束器無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 02132570.7 | 申請(qǐng)日： | 2002-07-11 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN1420353A | 公開(kāi)（公告）日： | 2003-05-28 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 臺(tái)謹(jǐn)賢;樓珊珊;相欣;祝建華 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 沈陽(yáng)東軟數(shù)字醫(yī)療系統(tǒng)股份有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01N23/02 | 分類號(hào)： | G01N23/02;A61B6/03 |
| 代理公司： | 沈陽(yáng)東大專利代理有限公司 | 代理人： | 崔蘭蒔 |
| 地址： | 110179 遼寧省沈陽(yáng)*** | 國(guó)省代碼： | 遼寧;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 射線 配套 智能 掃描 限束器 | ||
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G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
