[實(shí)用新型]晶片測試治具無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 01271110.1 | 申請日： | 2001-11-20 |
| 公開（公告）號： | CN2541852Y | 公開（公告）日： | 2003-03-26 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 朱旭昱 | 申請（專利權(quán)）人： | 朱旭昱 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京科龍環(huán)宇專利代理有限責(zé)任公司 | 代理人： | 孫皓晨,王國權(quán) |
| 地址： | 中國*** | 國省代碼： | 臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 晶片 測試 | ||
【說明書】：
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