[發(fā)明專利]磁阻存儲器裝置中避免不希望編程的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 01137795.X | 申請日: | 2001-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN1355535A | 公開(公告)日: | 2002-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | M·弗賴塔格;S·拉默斯;D·戈格爾;T·雷爾 | 申請(專利權(quán))人: | 因芬尼昂技術(shù)股份公司 |
| 主分類號: | G11C11/15 | 分類號: | G11C11/15;G11C5/00 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 鄭立柱,張志醒 |
| 地址: | 聯(lián)邦德*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁阻 存儲器 裝置 避免 希望 編程 方法 | ||
1.在MRAM-裝置中避免不希望編程的方法,在其中存儲單元(1;11,12,…)位于存儲單元區(qū)的字導(dǎo)線(WL)或者編程導(dǎo)線(PRL)和比特導(dǎo)線(BL)之間交叉點(diǎn)的至少一個平面上,其中將編程電流(IWL;IBL2)輸入屬于有選擇性的存儲單元(12)的字導(dǎo)線(WL1)和比特導(dǎo)線(BL2)中,這些在與有選擇性的存儲單元(12)相鄰的存儲單元(13;15)上至少產(chǎn)生起漏磁磁場作用的磁場,
其特征為,
將補(bǔ)償電流引導(dǎo)通過至少一個相鄰存儲單元(13;15)的字導(dǎo)線或者編程導(dǎo)線(PRL)或者比特導(dǎo)線(BL3;BL5)或者專門的導(dǎo)線(L),補(bǔ)償電流提供與漏磁磁場作用相反的補(bǔ)償磁場。
2.按照權(quán)利要求1的方法,其特征為,
將補(bǔ)償電流輸入到各自位于有選擇性的比特導(dǎo)線(BL2)的再下一個比特導(dǎo)線(BL4)中。
3.按照權(quán)利要求2的方法,其特征為,
將補(bǔ)償電流調(diào)整得比編程電流弱。
4.按照權(quán)利要求1至3之一的方法,其特征為,
在多層系統(tǒng)中將補(bǔ)償電流輸入到多層平面的字導(dǎo)線和比特導(dǎo)線中。
5.按照權(quán)利要求1至4之一的方法,
補(bǔ)償電流的強(qiáng)度是通過自調(diào)節(jié)電路控制的。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于因芬尼昂技術(shù)股份公司,未經(jīng)因芬尼昂技術(shù)股份公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/01137795.X/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:層壓型電子零件
- 下一篇:封閉腔活塞及其制造方法





