[發(fā)明專利]N型摻雜多晶硅的制造方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 01129599.6 | 申請(qǐng)日: | 2001-06-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN1393908A | 公開(kāi)(公告)日: | 2003-01-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃致遠(yuǎn);林經(jīng)祥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 旺宏電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/205 | 分類號(hào): | H01L21/205 |
| 代理公司: | 北京集佳專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 王學(xué)強(qiáng) |
| 地址: | 臺(tái)灣省新竹*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 摻雜 多晶 制造 方法 | ||
本發(fā)明是有關(guān)于一種摻雜多晶硅的制造方法,特別是有關(guān)于一種N型摻雜多晶硅的制造方法。
在集成電路的工藝中,多晶硅的形成扮演著相當(dāng)重要的角色,尤其是在形成MOS組件柵極(Gate)或是作為多晶硅內(nèi)連接結(jié)構(gòu)(Polysilicon?Interconnect?Structure)時(shí)。一般而言,多晶硅的沉積多用低壓化學(xué)氣相沉積法(Low?Pressure?Chemical?Vapor?Deposition,LPCVD)進(jìn)行,為了降低多晶硅的電阻率,而植入摻質(zhì)于多晶硅層中,以提高多晶硅層的導(dǎo)電度。進(jìn)行多晶硅摻雜的方式包括隨著沉積反應(yīng)進(jìn)行的方式植入摻質(zhì)、利用離子植入(Ion?Implantation)方式植入摻質(zhì)或通過(guò)高溫?cái)U(kuò)散(Diffusion)的方式驅(qū)入摻質(zhì)。
在利用上述隨著低壓化學(xué)氣相沉積反應(yīng)而進(jìn)行摻質(zhì)植入方式進(jìn)行多晶硅摻雜時(shí),不同摻質(zhì)在沉積過(guò)程中反應(yīng)機(jī)制不同,對(duì)于多晶硅薄膜的沉積速率影響很大。例如在沉積P型摻雜多晶硅時(shí),使用硼乙烷作為摻雜氣體源,只需增加少許濃度就可以大幅度的提升反應(yīng)速率,具有催化劑的效果。而在沉積N型摻雜多晶硅時(shí),使用磷化氫作為摻雜氣體源,由于磷化氫具有化學(xué)上立體結(jié)構(gòu)效應(yīng)的關(guān)系,增加濃度反而會(huì)降低反應(yīng)速率。
此外,沉積多晶硅是使用硅烷或含氯硅烷作為反應(yīng)氣體源,而多晶硅薄膜成長(zhǎng)速率會(huì)隨著反應(yīng)氣體源中氯含量增加而遞減。所以,在一般多晶硅沉積工藝中多以硅烷作為反應(yīng)氣體源,而局限了工藝上反應(yīng)氣體源的選擇性。
而且,在一般多晶硅沉積工藝中,沉積速率是由溫度的改變而控制,通過(guò)提高溫度以增加沉積速率,同時(shí)也導(dǎo)致了多晶硅結(jié)構(gòu)的改變。
因此,本發(fā)明目的之一在于提供一種N型摻雜多晶硅的制造方法,改善以含氯硅烷等作為反應(yīng)氣體源于多晶硅化學(xué)沉積工藝中的沉積速率。
本發(fā)明另一目的在于提供一種N型摻雜多晶硅的制造方法,利用催化劑改善以硅基烷類(硅烷或含氯硅烷)等作為反應(yīng)氣體源于多晶硅化學(xué)沉積工藝步驟中的沉積速率。
本發(fā)明另一目的在提供一種N型摻雜多晶硅的制造方法,在工藝步驟中避開(kāi)溫度對(duì)多晶硅結(jié)構(gòu)的改變,以化學(xué)方法利用一催化劑改善沉積速率,以降低熱預(yù)算(Thermal?Budget)。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明提供一種N型摻雜多晶硅的制造方法,此方法包括提供一個(gè)晶片,把晶片放在一反應(yīng)室中。接著,向反應(yīng)室中通入包括一反應(yīng)氣體源、一N型摻雜氣體源以及一催化劑氣體源。然后,進(jìn)行一個(gè)化學(xué)氣相沉積工藝步驟,以形成N型摻雜多晶硅薄膜。
本發(fā)明的主要優(yōu)點(diǎn)在于,增加工藝上氣體的選擇性;改善以硅基烷類(硅烷或含氯硅烷)等作為反應(yīng)氣體源在多晶硅化學(xué)沉積工藝中的沉積速率,在工藝中避開(kāi)溫度對(duì)多晶硅結(jié)構(gòu)的改變,以降低熱預(yù)算。
下面結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的兩個(gè)較佳實(shí)施例:
圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例的N型摻雜多晶硅的制造方法剖面圖。
圖2為本發(fā)明第二實(shí)施例的N型摻雜多晶硅的制造方法剖面圖。
附圖標(biāo)記說(shuō)明:
102、202:反應(yīng)室
104、204:反應(yīng)氣體源
106:N型摻雜氣體源
108、206:催化劑
實(shí)施例
第一實(shí)施例:
請(qǐng)參照?qǐng)D1,首先提供一個(gè)半導(dǎo)體晶片,將此半導(dǎo)體晶片100放在一反應(yīng)室102中,反應(yīng)室102可以是爐管式反應(yīng)室或單一晶片反應(yīng)爐(Single?Wafer?Chamber)。
接著,向反應(yīng)室102中通入反應(yīng)氣體源104、N型摻雜氣體源106以及催化劑108。反應(yīng)氣體源104例如為硅基烷類或含氯硅烷,包括甲硅烷(SiH4)、二氯化硅烷(SiH2Cl2)、三氯化硅烷(SiHCl3)與四氯化硅(SiCl4)等。N型摻雜氣體源106例如為磷化氫(PH3)。催化劑108例如為可增進(jìn)多晶硅沉積速率的藥劑,包括硼乙烷(B2H6)等。然后進(jìn)行一個(gè)化學(xué)氣相沉積工藝步驟,以形成N型摻雜多晶硅。
在上述工藝步驟中,由于在反應(yīng)室102中加入一催化劑108以增加多晶硅的沉積速率,因此可以使用含氯硅烷作為多晶硅化學(xué)氣相沉積的反應(yīng)氣體源以增加工藝上氣體的選擇性。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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