[發(fā)明專利]光存儲材料存儲特征靜態(tài)測試裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 01126359.8 | 申請日： | 2001-07-27 |
| 公開（公告）號： | CN1155947C | 公開（公告）日： | 2004-06-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 徐文東;干福熹 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機械研究所 |
| 主分類號： | G11B7/00 | 分類號： | G11B7/00;G11B7/26;G11B20/18 |
| 代理公司： | 上海新天專利代理有限公司 | 代理人： | 張澤純 |
| 地址： | 201800上*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 存儲 材料 特征 靜態(tài) 測試 裝置 | ||
【說明書】：
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