[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置的制造方法和半導(dǎo)體裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 01111347.2 | 申請(qǐng)日: | 2001-03-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN1331487A | 公開(公告)日: | 2002-01-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 橫井直樹 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三菱電機(jī)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L21/302 | 分類號(hào): | H01L21/302;H01L21/768 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 楊凱,王忠忠 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 制造 方法 | ||
1、一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征是,具有使用含有:
氫氧化物;
水溶性有機(jī)溶劑;和
以下述通式(I)或(II)表示的化合物的清洗液的半導(dǎo)體襯底的清洗工序。
HO-{(EO)x-(PO)y}z-H????..(I)
R-[{(EO)x-(PO)y}z-H]m??..(II)
(上式中,EO表示氧乙烯基、PO表示氧丙烯基、R表示乙醇或氨絡(luò)的除去了氫氧基中氫原子的殘基、或表示氨基酸的除去了氫原子的殘基。x,y表示滿足x/(x+y)=0.05~0.4的整數(shù),z,m表示正整數(shù))。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征是,上述清洗工序所用的清洗液進(jìn)而含有:具有至少一個(gè)巰基的有機(jī)化合物;具有至少兩個(gè)氫氧基的有機(jī)化合物;以及具有至少一個(gè)氫氧基和至少一個(gè)羧基的有機(jī)化合物之中至少一種有機(jī)化合物。
3、一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征是,具有使用含有:
氫氧化物;以及
具有至少一個(gè)巰基的有機(jī)化合物,具有至少兩個(gè)氫氧基的有機(jī)化合物、和具有至少一個(gè)氫氧基及至少一個(gè)羧基的有機(jī)化合物之中至少一種有機(jī)化合物的清洗液的半導(dǎo)體襯底清洗工序。
4、根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征是,在上述半導(dǎo)體襯底上同時(shí)露出鎢系構(gòu)件和硅系構(gòu)件的狀態(tài)下,進(jìn)行上述清洗工序。
5、根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征是:
還具有:
在上述半導(dǎo)體襯底上層疊形成絕緣膜、多晶硅膜、阻擋層金屬和鎢膜的工序;
在上述鎢膜上形成第1抗蝕劑圖形的工序;
將上述第1抗蝕劑圖形作為掩模,用干式刻蝕處理上述多晶硅膜、阻擋層金屬和鎢膜而形成布線圖形的工序;以及
除去上述抗蝕劑圖形的工序,
經(jīng)過(guò)以上工序后,進(jìn)行上述清洗工序。
6、根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征是:
還具有:
在上述布線圖形和上述布線圖形周邊的上述絕緣膜上形成第2抗蝕劑圖形的工序;
將上述第2抗蝕劑圖形作為掩模,向上述半導(dǎo)體襯底進(jìn)行離子注入的工序;以及
除去上述抗蝕劑圖形的工序,
經(jīng)過(guò)以上工序后,進(jìn)行上述清洗工序。
7、根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征是:
還具有:
在上述半導(dǎo)體襯底上形成第1絕緣膜的工序;
在上述第1絕緣膜上形成層疊多晶硅膜、阻擋層金屬和鎢膜的布線圖形的工序;
在上述布線圖形上形成第2絕緣膜之后,在上述第2絕緣膜上形成第1抗蝕劑圖形的工序;
將上述第1抗蝕劑圖形作為掩模,通過(guò)干式刻蝕處理形成從上述第2絕緣膜表面到上述布線圖形的連接孔的工序;以及
除去上述抗蝕劑圖形的工序,
經(jīng)過(guò)以上工序后,進(jìn)行上述清洗工序。
8、根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征是,在上述半導(dǎo)體襯底上露出至少兩種類型硅系構(gòu)件的狀態(tài)下,進(jìn)行上述清洗工序。
9、根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征是:
還具有:
在上述半導(dǎo)體襯底上形成第1絕緣膜的工序;
在上述第1絕緣膜上形成層疊多晶硅膜、阻擋層金屬和鎢膜的布線圖形的工序;
在上述布線圖形和上述第1絕緣膜上形成第2絕緣膜后,在上述第2絕緣膜上形成抗蝕劑圖形的工序;
將上述抗蝕劑圖形作為掩模,形成從上述第2絕緣膜表面到上述布線圖形的第1連接孔和從上述第2絕緣膜表面到上述第1絕緣膜的第2連接孔的工序;以及
除去上述抗蝕劑圖形的工序,
經(jīng)過(guò)以上工序后,進(jìn)行上述清洗工序。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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