[發(fā)明專利]光學(xué)拾取器無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 01103080.1 | 申請日: | 2001-01-06 |
| 公開(公告)號: | CN1308326A | 公開(公告)日: | 2001-08-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄭鐘三;金泰敬;安榮萬;徐偕貞 | 申請(專利權(quán))人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | G11B7/12 | 分類號: | G11B7/12;G11B7/135;G11B7/09 |
| 代理公司: | 柳沈知識產(chǎn)權(quán)律師事務(wù)所 | 代理人: | 馬瑩 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光學(xué) 拾取 | ||
本發(fā)明涉及一種能夠有效地校正由光盤傾斜而引起像差的光學(xué)拾取器,具有改進(jìn)的散焦特性,其中兩個光斑,即一個主光斑和一個具有光學(xué)像差的副光斑,聚焦在光盤上,然后被光檢測器接收并被分析處理以用于校正。
通常,光學(xué)拾取器用于將信息記錄在光盤上或再現(xiàn)光盤上的信息。隨著光盤記錄密度的增加,對發(fā)出短波長光的光源和具有較大數(shù)值孔徑NA的物鏡的需求也在增長。另一方面,使用光學(xué)拾取器將信息記錄在光盤上或再現(xiàn)光盤上的信息時,如果光盤以一個相對于光軸的預(yù)定的角度安裝,也就是說,如果光盤的記錄表面相對于光軸傾斜,彗形像差就會由于光盤的傾斜而產(chǎn)生。對于采用發(fā)出短波長光的光源和具有較大NA的物鏡的高密記錄的光學(xué)拾取器來說,采用高密光盤時,球面像差就會由于光盤厚度和光波長的偏差在與低密光盤兼容的光學(xué)系統(tǒng)中產(chǎn)生。此外,由于物鏡NA的增加,焦點(diǎn)深度減小以控制再現(xiàn)特性。因此,在調(diào)節(jié)光盤和物鏡之間的工作距離時就需要精確控制由誤差而產(chǎn)生的散焦。
彗形像差W31滿足下面的條件(1)。如果光盤的傾斜角度是相同的,與較低的NA相比,彗形像差W31在較高的NA突然增大。
W31∝NA3???????…(1)
光盤記錄密度由光源發(fā)出的光的波長λ和物鏡的NA確定,它用公式(2)表示:光斑的直徑
這里n表示光盤襯底的折射率,d表示光盤襯底的厚度。
為了將光盤的記錄密度增加到每張光盤15千兆字節(jié)(GB)或更多,根據(jù)公式(2),就需要能夠發(fā)出大約為410nm短波長光的光源和具有0.6或更大NA的物鏡。然而,物鏡的NA被增加以用于高密記錄時,由于光盤厚度偏差而產(chǎn)生的并與NA的四次冪成正比的球面像差W40d也大大地增加了。
參考圖1,一種設(shè)計用來校正彗形像差和球面像差的常規(guī)像差校正裝置,它包括一用于聚焦入射光的物鏡3和一用于聚焦更多入射光以便在光盤1上形成一光斑的聚光透鏡5。
光盤1按預(yù)定方向傾斜的情況下,聚光透鏡5被驅(qū)動以平行于該方向而傾斜,因此就能校正彗形像差。
在具有上述結(jié)構(gòu)的常規(guī)像差校正裝置中,物鏡3和聚光透鏡5按預(yù)定的角度被驅(qū)動以進(jìn)行跟蹤和聚焦控制,或僅僅按預(yù)定的角度驅(qū)動聚光透鏡,這樣這種裝置的致動器的結(jié)構(gòu)就變得復(fù)雜了。
此外,在從軌道再現(xiàn)信息時,對15GB或更高的高密記錄的需要就會由于相鄰軌道的干擾而產(chǎn)生串音問題。
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