[發(fā)明專利]分析患者對至少一種疾病的遺傳傾向性的方法和適應該方法的擴增無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 00807807.6 | 申請日: | 2000-05-19 |
| 公開(公告)號: | CN1351672A | 公開(公告)日: | 2002-05-29 |
| 發(fā)明(設計)人: | B·默津;J-M·特爾西 | 申請(專利權(quán))人: | 比奧美希奧公司 |
| 主分類號: | C12Q1/68 | 分類號: | C12Q1/68 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務所 | 代理人: | 唐偉杰 |
| 地址: | 法國瑪西*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 分析 患者 至少 一種 疾病 遺傳 傾向性 方法 適應 擴增 | ||
1.用于分析患者對至少一種疾病的遺傳傾向性的方法,包括當存在按下列方式選擇的探針時,放置含有至少一個擴增子的液體樣品,該擴增子來自與所檢查疾病有關的至少一個目的多態(tài)區(qū)的擴增,探針的選擇如下:
-至少一個“低分辨率”的特異性分型探針,其能夠與擴增子帶有的并與所述疾病相關的至少一個基因或該基因的一群等位基因的目的多態(tài)區(qū)雜交,和
-至少一個特異性“高分辨率”亞型分型探針,其能夠與“低分辨率”分型探針特異的等位基因或等位基因群的所述目的多態(tài)區(qū)雜交,根據(jù)它們是否雜交,該高分辨率探針能夠區(qū)分與所述疾病易感性相關的等位基因和/或與所述疾病抗性相關的等位基因。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的方法,當已經(jīng)用至少一個相應于另一群等位基因的特異性低分辨率分型探針檢測到該基因或該基因的等位基因群的一個等位基因時,以便檢測另一個等位基因的存在,該方法包括對至少一個其它等位基因特異的至少一個探針存在時放置擴增子,該擴增子相應于用低分辨率探針檢測的所述基因或該基因的所述等位基因群的多態(tài)性。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2的方法,其特征在于所檢查疾病特異的每一種低或高分辨率探針,含有至少一個所述被檢查疾病的特征性基元。
4.??根據(jù)權(quán)利要求1-3之任意一項的方法,用于檢測類風濕性關節(jié)炎和其它相關疾病的遺傳易感性HLA-DR等位基因,其特征在于使用:
-至少一個能夠與DRB1*gr04等位基因群雜交的低分辨率探針,
-至少一個與類風濕性關節(jié)炎遺傳易感性相關的、能夠與下列等位基因雜交的高分辨率探針:DRB1*0101、DRB1*gr0401、DRB1*gr0404、DRB1*gr0405、DRB1*gr0408和DRB1*gr1402,
-至少一個與類風濕性關節(jié)炎遺傳抗性相關的、能夠與下列等位基因雜交的高分辨率探針:DRB1*gr0402、DRB1*gr0403、DRB1*gr0406、和DRB1*gr0407。
5.根據(jù)權(quán)利要求4的方法,其特征在于使用至少一個能夠與DRB1*01等位基因群和DRB1*10等位基因雜交的低分辨率探針。
6.權(quán)利要求4或5中的方法,當已經(jīng)檢測到DRB1*04等位基因群的一個等位基因時,以便檢測另一個等位基因的存在,其特征在于使用至少一個能夠與下列等位基因雜交的探針:DRB1*02、DRB1*03、DRB1*07、DRB1*08、DRB1*09、DRB1*11、DRB1*12、DRB1*13和DRB1*14。
7.根據(jù)權(quán)利要求4-6之任意一項的方法,其特征在于使用:
-SEQ?ID?NO?3探針,用于DRB1*gr04分型,
-兩個與類風濕性關節(jié)炎遺傳易感性相關的高分辨率探針:
-SEQ?ID?NO?4,用于DRB1*gr0401,
-SEQ?ID?NO?7,用于DRB1*0101、DRB1*gr0404、DRB1*gr0405、DRB1*gr0408和DRB1*1402,
-兩個與類風濕性關節(jié)炎遺傳抗性相關的高分辨率探針:
-SEQ?ID?NO?5,用于DRB1*gr0402,和
-SEQ?ID?NO?6,用于DRB1*gr0403、DRB1*gr0406和DRB1*gr0407。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的方法,其特征在于使用DRB1*gr0405特異的、并與類風濕性關節(jié)炎遺傳易感性相關的高分辨率探針SEQ?ID?NO?8。
9.根據(jù)權(quán)利要求5的方法,其特征在于使用下面兩個探針用于分型:
-SEQ?ID?NO?11,用于DRB1*01等位基因群,和
-SEQ?ID?NO?15,用于DRB1*10等位基因。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于比奧美希奧公司,未經(jīng)比奧美希奧公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/00807807.6/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





