[發明專利]用于光拾取器的調整光盤、調整方法及調整裝置

無效

• 申請號: 00805528.9
• 申請日: 2000-12-20
• 公開（公告）號: CN1345444A
• 公開（公告）日: 2002-04-17
• 發明（設計）人: 長田靖夫;熊倉淳造;長坂英夫;梶山佳弘;廣澤秀一
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: G11B7/08
• 分類號: G11B7/08;G11B7/22
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 馬瑩

1.一種用于光拾取器的調整光盤，其中共心地形成多個記錄軌道。

2.如權利要求1所述的用于光拾取器的調整光盤，其中在盤上的各自的記錄軌道分別將信息記錄為單位凹坑長度的整數倍的多個凹坑。

3.如權利要求1所述的用于光拾取器的調整光盤，其中在各自的記錄軌道，分別記錄有指示在徑向上相應的各個軌道到盤的中心的位置的信息。

4.一種用于光拾取器的調整方法，其中在包括用于發射光束的光源、用于將光束照射到用于調整的光盤上的物鏡、和用于在平行于物鏡的光軸的方向上和垂直于光軸的方向上驅動物鏡的驅動部分的光拾取器中的光源關于物鏡被可移動性地保持，和驅動部分關于光源被可移動性地保持的狀態下，

光束從光拾取器照射到共心地具有記錄軌道的調整光盤上以關于光源調整物鏡的相對位置和物鏡的光軸的傾度。

5.如權利要求4所述的用于光拾取器的調整方法，其中在用于從光拾取器將光束照射到調整光盤以實施調整的在前階段，從光拾取器照射的光束通過圖象拾感器部分進行檢測以因此實施與關于光源的物鏡的相對位置有關的粗調整。

6.如權利要求5所述的用于光拾取器的調整方法，其中光源包括：半導體激光器和用于將從半導體激光器發射的光束分成至少第0級光和第+/-1級光的光元件，因此實施調整以使在實施了關于光源的物鏡的相對位置的粗調整后光源和圖象拾取器部分的中心相一致。

7.如權利要求6所述的用于光拾取器的調整方法，其中在已經實施了粗調整后，光束從光拾取器照射到調整光盤上以在來自調整光盤的返回光的基礎上實施與關于光源的物鏡的相對位置有關的精調整。

8.如權利要求7所述的用于光拾取器的調整方法，其中通過旋轉地調整光源實施精調整以便第+/-1級光的相位差以從光拾取器照射到調整光盤上的第+/-1級光和第0級光中的第0級光為中心變成等于180度。

9.如權利要求8所述的用于光拾取器的調整方法，其中在從光源發射的光束通過物鏡聚焦在調整光盤上的狀態下實施精調整。

10.如權利要求9所述的用于光拾取器的調整方法，其中在進行了精調整后從光源發射的光束跟隨并掃描調整光盤的記錄軌道的狀態下，在通過檢測從光拾取器照射到調整光盤上的光束的從調整光盤的返回光獲得的結果的基礎上，調整物鏡的光軸的傾度。

11.如權利要求10所述的用于光拾取器的調整方法，其中在通過檢測從光拾取器照射到調整光盤上的光束的從調整光盤的返回光獲得的檢測輸出信號的抖動值的基礎上，調整物鏡的光軸的傾度。

12.如權利要求4所述的用于光拾取器的調整方法，其中以某一特定位置為參考調整光拾取器，以便當第0級光從光盤的特定位置向光盤的內部圓周側移動時第+/-1級光的相位差的改變，和當第0級光從特定位置向光盤的外部圓周側移動時第+/-1級光的相位差的改變實質上相等。

13.一種用于光拾取器的調整方法，其中包括一個用于發射光束的光源和一個用于將光束照射到用于調整的光盤上的物鏡的光拾取器被安裝在基座單元上，該基座單元包括一個用于支撐光拾取器的滑動基部，一個用于可移動性地支撐滑動基部的導向軸，一個用于在調整光盤的徑向移動滑動基部的移動機構，和一個用于旋轉地驅動調整光盤的盤旋轉驅動機構，在上述狀態下，光束從光拾取器照射到共心地具有記錄軌道的調整光盤上，以調整關于光源的物鏡的相對位置和物鏡的光軸的傾度。

14.如權利要求13所述的用于光拾取器的調整方法，該方法包括：

在根據在從光拾取器的光源發射的光束的基礎上產生的第+/-1級光和第0級光的第+/-1級光的檢測結果，從光源發射的光束跟隨并掃描調整光盤的記錄軌道的狀態下，以導向軸為參考保持基座單元并保持光拾取器，因此實施調整以便物鏡的光軸和光源的光發射點相互一致；

通過使用用于關于與調整光盤的徑向平行的方向和與徑向垂直的方向調整物鏡的光軸的位置的平行位移機構，調整物鏡的光軸的位置；

調整從光拾取器發射的第+/-1級光的相位差；

通過使用用于關于調整光盤的徑向和與徑向垂直的方向調整物鏡的光軸的傾度的旋轉機構，調整物鏡的光軸；和

關于基座單元固定光拾取器以因此允許光拾取器進行定位以便它位于基座單元。