[發明專利]由預成型坯拉制光纖的爐子的底部的密封方法和裝置

無效

• 申請號: 00804039.7
• 申請日: 2000-02-10
• 公開（公告）號: CN1341082A
• 公開（公告）日: 2002-03-20
• 發明（設計）人: S·C·鮑爾;老J·M·巴納德;J·A·斯奈普斯
• 申請（專利權）人: 康寧股份有限公司
• 主分類號: C03B37/029
• 分類號: C03B37/029
• 代理公司: 上海專利商標事務所
• 代理人: 王宏祥

1.一種在光波導拉制爐底部形成密封的裝置，所述裝置包括：

一構制和設置成與所述拉制爐底部相配合而形成密封的組件；以及

一與所述組件相聯而確定所述密封是否有泄漏的泄漏檢測系統。

2.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述組件包括一蓋板，該蓋板具有一頂面，所述蓋板的頂面或所述拉制爐的底部具有第一密封圈和與所述第一密封圈徑向隔開的第二密封圈。

3.如權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述組件還包括一連接于所述蓋板的臂，用以將所述蓋板移動成與所述拉制爐底部相接觸和相分離。

4.如權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述組件還包括一設置在所述臂與所述蓋板之間的調平機構，所述調平機構連接于所述臂并可樞轉地連接于所述蓋板而使所述蓋板與所述拉制爐底部自動對準。

5.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述泄漏檢測系統包括：

一與所述組件相聯而供給惰性氣體的惰性氣體源；

一設置在所述惰性氣體源下游、用于檢測惰性氣體流量并傳遞與該流量相應的信號的流量計；以及

一連接于所述流量計而用以接收所述信號的計算機，所述計算機經編程而分析所述信號，以確定所述密封是否合格。

6.一種使光波導拉制爐底部密封的裝置，它包括：

一蓋板；以及

設置在所述蓋板或所述拉制爐底部上的第一和第二密封圈，所述第一密封圈與所述第二密封圈隔開，所述第一和第二密封圈之間形成一個通道，并且所述蓋板可移動成與所述拉制爐底部相接合而與其形成密封。

7.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述蓋板具有一凹形表面。

8.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，它還包括一移動所述蓋板的臂和一使所述蓋板自動固定于所述拉制爐底部上的調平裝置。

9.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，它還包括一與所述通道流體連通氣體泄漏檢測系統。

10.一種使光波導拉制爐底部密封的方法，所述方法包括以下步驟：

將一蓋板固定于所述拉制爐的底部上而在它們之間形成密封；

在所述蓋板與所述拉制爐底部之間供給一惰性氣體流；以及

以足以確定所述密封是否氣密的方式檢測所述惰性氣體的情況。

11.如權利要求10所述的方法，其特征在于，它還包括顯示所述密封狀態的步驟。

12.如權利要求10所述的方法，其特征在于，所述供給惰性氣體流的步驟包括將所述惰性氣體導入所述蓋板上的第一和第二密封圈之間所形成的一通道中的步驟。

13.一種形成用以防止空氣吸入光波導拉制爐的密封的方法，所述方法包括以下步驟：

將至少兩個徑向隔開的圓周狀密封圈壓于一底部門組件與所述拉制爐底部之間，以在所述拉制爐底部、所述底部門組件與所述至少兩個密封圈之間形成一環形通道；

將數量足以防止空氣突破所述受壓的至少兩個密封圈并進入拉制爐底部的一惰性氣體送入該通道；

用一測量裝置對所述惰性氣體進行監控，以確定所述惰性氣體在一特定時間段內是否減少到一目標值；以及

對密封質量提供反饋，使操作者或計算機控制系統能夠確定是否形成足夠的密封。

14.如權利要求13所述的方法，其特征在于，所述方法還包括在沒有形成合適密封的情況下將所述底部門組件從所述拉制爐底部自動縮回的步驟。

15.如權利要求13所述的方法，其特征在于，所述供給步驟包括以一預定流量供給氬氣的步驟。

16.一種檢查光波導拉制爐底部是否密封的方法，所述方法包括以下步驟：

移動一底部門組件而使其與所述拉制爐底部相接合；

在所述底部門組件與所述拉制爐底部之間供給一惰性氣體；

用一測量裝置監控所述惰性氣體而提供一惰性氣體讀數；

將所述惰性氣體讀數與一閾值相比較；以及

將所述比較步驟的結果用信號通知操作者。