[實用新型]雙面電路板檢測機無效
| 申請號: | 00200939.0 | 申請日: | 2000-01-25 |
| 公開(公告)號: | CN2413295Y | 公開(公告)日: | 2001-01-03 |
| 發明(設計)人: | 李青茂 | 申請(專利權)人: | 益寧精密股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京三友專利代理有限責任公司 | 代理人: | 蔣旭榮 |
| 地址: | 臺灣省*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 雙面 電路板 檢測 | ||
本實用新型涉及一種雙面電路板檢測機,尤指一種檢測機上供承放雙面電路板的模板,該模板通過硅膠灌模制成,便于成形,并使之完全貼合在雙面電路板上以進行測試。
一般雙面電路板制作完成后必須進行測試,才可確保產品的質量;現有的測試雙層電路板的方式是采用檢測機進行測試,而該檢測機a的主要結構為,在一平機臺a1上樞設有一上機臺a2,在平機臺a1上設有一承板b,其上設有數個座孔b1,如圖4所示。
測試時,將雙面電路板c放置在承板b的座孔b1內,再將檢測機a的上機臺a2蓋在平機臺a1上,而該平機臺a1頂面具有測試用的探針a11,探針穿過承板b頂觸在該雙面電路板c下方的電路接點上,進行電路測試。
為完成測試,承放雙面電路板c的承板b,必須依雙面電路板c上的電子元件開設座孔b1,才能使雙面電路板c平整放置在承板b上,使該平機臺a1上方的探針a11得以準確頂觸到測試的接點;由于雙面電路板c上的電子元件數量多,所以必須一一開設形狀細小的座孔b1,因而造成制作承板b的麻煩。
再者,由于雙面電路板c的功能越來越多,且面積越來越小,故雙面電路板c上的電子元件排列十分緊密,使得電子元件之間的間隔十分窄小,因此,該用以承放雙面電路板c的承板b上的各個座孔b1之間十分接近,甚至因過于接近,而成為一大的座孔,使得雙面電路板c被支撐的面積越來越小,甚至沒有供支撐的地方,從而造成雙面電路板c無法平整穩定放置在承板b上,使雙面電路板c不易與全部的探針a11全面頂觸,容易產生接觸不良的情況,影響測試的結果。
現有的承板b多以纖維板制成,為硬質材料,故其頂面無法與雙面電路板c全面緊密接觸,使該雙面電路板c不易與全部的探針a11緊密頂觸,容易產生接觸不良的情況,影響測試結果。
此外,在纖維板材質的承板b上加工開設座孔b1較為困難,且加工時間長,因而增加承板b的制造成本;而雙面電路板c的種類非常多,且一段時間后即變換產品,所以必須時常更換承板b,如此一來又要重新開設一組承板b;且該承板b一旦更換后即不再使用,因而增加不少生產制造的成本。
本實用新型的主要目的在于提供一種雙面電路板檢測機,其上供承放雙面電路板的承板上的座孔內的模板是用硅膠灌模制成,因而便于制造成形供放置雙面電路板。
本實用新型的又一目的在于提供一種雙面電路板檢測機,其上供承放雙面電路板的承板上的座孔內的模板是用硅膠灌模制成,使該承板上的孔座具有微量彈性,可完全貼合在雙面電路板上,以供測試。
本實用新型的再一目的在于提供一種雙面電路板檢測機,其上供承放雙面電路板的承板上的座孔內的模板是用硅膠灌模制成,因而可降低承板的制造成本。
為達到上述目的,本實用新型的實施方案為:一種雙面電路板檢測機,在平機臺上樞設有一上機臺,在該平機臺上設有一承板,該承板上設有數個座孔,在承板上設有針孔,在該座孔內具有相對于被測試的雙面電路板一面形狀的硅膠灌鑄而成的模板,雙面電路板放置在承板的模板上,檢測機的探針穿過承板針孔和模板上的孔,頂觸在雙面電路板的電路接點。
本實用新型由于采用了用硅膠混合硬化劑調成混合劑灌模制成的模板,使制造成形速度快,加工容易,得以降低模板的制造成本;由于硅膠材料的座孔模板具有一定彈性,可對被測雙面電路板提供良好支撐,保證測試的質量。
下面結合附圖和具體實施方式對本實用新型作進一步做詳細說明。
圖1是本實用新型的承板放置在檢測機上進行測試的示意圖
圖2是本實用新型的承板上的座孔成形示意圖
圖3是本實用新型的承板剖視示意圖
圖4是在現有檢測機上進行測試的示意圖
如圖1,現有的檢測機1由平機臺11及上機臺12組成,平機臺11樞設有一上機臺12,該平機臺11上設有一承板2,該承板2上設有數個座孔21,且在該座孔21內設有形狀相對于被測試的雙面電路板3一面的模板4,在承板2上設有針孔22,將雙面電路板3放置在模板4上,使得檢測機1的探針13穿過針孔22頂觸在雙面電路板3的電路接點,以進行檢測;
本實用新型提供的承板2上座孔21內的模板4是用硅膠4’灌鑄而成,使該承板2上的座孔21內的模板4與雙面電路板3一面的形狀完全吻合,因而可平穩支撐該雙面電路板3,使得檢測機1的探針13全面頂觸在雙面電路板3的電路接點上,避免因接觸不良而造成測試不正確情況發生。
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