[發明專利]篩選ICT測試盲點以制造目檢罩板的系統與方法無效
| 申請號： | 00124418.3 | 申請日： | 2000-09-11 |
| 公開（公告）號： | CN1123780C | 公開（公告）日： | 2003-10-08 |
| 發明（設計）人： | 吳沛霖 | 申請（專利權）人： | 華碩電腦股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G06F11/00 |
| 代理公司： | 隆天國際知識產權代理有限公司 | 代理人： | 潘培坤,陳紅 |
| 地址： | 暫無信息 | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 篩選 ict 測試 盲點 制造 目檢罩板 系統 方法 | ||
【說明書】：
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